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在反射模式將白色的紙放置在光具(底片)之下，介于光具透明和不透明范圍之間，以提高其對比度。經(jīng)過交替的變換達到或接近所使用的標準的AOI系統(tǒng)。這種方法不是通用的的，更多的傾向是由于微小的劃傷，才會出現(xiàn)假的缺陷報告。另外:容易產(chǎn)生錯誤的是由于光具表面銀粒子無光澤,再通過AOI的反射模式，特別是焦點不是在光具銀乳膠膜上，就很容易出現(xiàn)假的讀出。而表面無光澤的粒子致使真空度下降。這些粒子是甲1基丙1烯酸樹脂，直徑大約7微米，它能夠使光發(fā)出散光。

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視頻作者：深圳市億昇精密光電科技有限公司

AOI檢查程序必須而且能夠處理這些不同的變化所帶來 的問題。但是，其中的一些變化需要花費時間進行處理， 因為我們不能預先知道是否有一種新的元器件被使用，或 是存在一個錯誤的元器件布局。同時，面對質(zhì)量方面的困 難，大量允許的可能出現(xiàn)的情況也需要一個一致的，確實 可行的說明。始終采用同樣的材料和產(chǎn)品，再加上優(yōu)化的PCB設計， 可以減小由于產(chǎn)品的變更對AOI/ AXI測試所造成的影響。

印刷缺陷有很多種，大體上可以分為焊盤上焊膏不足、焊膏過多；大焊盤中間部分焊膏刮擦、小焊盤邊緣部分焊膏拉尖；印刷偏移、橋連及沾污等，形成這些缺陷的原因包括焊膏流變性不良、模板厚度和孔壁加工不當，印刷機參數(shù)設定不合理、精度不高、刮1刀材質(zhì)和精度選擇不當、PCB加工不良等，通過AOI可以有效監(jiān)控焊膏印刷質(zhì)量，并對缺陷數(shù)量和種類進行分析，從而改善印刷制程。